5 Status of the product after test→

5 Status of the product after test→ Decide whether or not the UPS must be scrapped after tests• The product can be reused if all tests are passed without any failure and any damage.• In order to reduce Hi-pot test times, make sure the dielectric test at last step before re-do ATE PC final testing. Do not do Hi-pot test again after Surveillance test.

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5测试后产品的状态 →确定测试后是否必须报废UPS •如果所有测试均通过且没有任何故障和损坏，则可以重复使用该产品。 •为了减少Hi-pot测试时间，请在进行ATE PC最终测试之前确保最后一步进行电介质测试。监视测试后，请勿再次进行Hi-pot测试。

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5 测试后产品的状态 →决定是否必须在测试后取消 UPS • 如果所有测试均通过，且没有任何故障和损坏，则产品可以重复使用。 • 为了减少高锅测试时间，请确保在重新进行 ATE PC 最终测试之前的最后一步进行介电测试。监视测试后不要再做高锅测试。

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5试验后产品状态 →测试后决定是否必须报废UPS •如果所有测试均通过，且无任何故障和损坏，则产品可重复使用。 •为了减少高压测试时间，在重新进行PC最终测试之前，确保在最后一步进行介电测试。监督试验后，不要再进行高压试验。

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