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Cold sintering process (CSP) radica

Cold sintering process (CSP) radically changes our concepts of sintering temperature ranges[6,7]. Sintering is generally regarded as a thermally-driven process where atomic diffusion lead to a decrease in the excess of surface energy in a particulate ensemble [8]. This is generally accomplished by a densification and grain growth process. The typical sintering temperatures are considered in relation to the melting temperature of the material. Mechanistically, Ashby et al. have most comprehensively outlined the important behavior enabling and controlling the diffusion mass transport processes under applied stress and temperature [9]. The ratio of sintering temperatures, Ts, and melting point, Tm, in those sintering diagrams ranges between 0.5 to 0.95 in terms of the Ts/Tm ratio. With the introduction of CSP, which is a process that utilizes a transient chemical phase, with intermediate pressures and low temperatures ≈ 300 °C, it has now been demonstrated for many materials, over 80 different materials with a wide variation of compositions, crystal structures, and chemical bonding [10–12]. Cold sintering uses an open system that allows the evaporation and loss of the transient phases. At interfaces between particles undergoing sintering, it aids rearrangement, dissolution-precipitation creep, and grain growth. Transport is permitted to have increased kinetics through a pressure solution creep mechanism that drives chemical dissolution from highly constrained areas between particles into the liquid solvents, and then rapidly diffuses from the contact points along the grain boundaries, to then precipitate at less constrained pore surfaces [13,14]. In addition to demonstrations of the densification process with temperature ratios Ts/Tm < 0.1 with cold sintering, there are also demonstrations of co-sintering different materials, allowing the ability to fabricate novel composite materials. This has been with nanomaterials at grain boundaries, such as 2D materials [15], thermosetting [16], and thermoplastic polymers [17–19], all targeting grain boundary properties. Another important demonstration of the power of CSP has been with modifying conventional manufacturing thick film processes to form films on metal substrates and multilayer devices; then, after low temperature debinding of forming organics, enabling prototyping of devices such as thermoelectric generators [20], CoG capacitors [21], and microstrip patch antennas [22], with different electrochemical active electrode materials.
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冷烧结工艺(CSP)从根本上改变了我们的烧结温度范围概念[6,7]。烧结通常被认为是一种热驱动过程,其中原子扩散导致颗粒集合体中多余的表面能减少[8]。这通常通过致密化和晶粒生长过程来完成。考虑到典型的烧结温度与材料的熔化温度有关。机械上,Ashby等。最全面地概述了在施加的应力和温度下启用和控制扩散物质传输过程的重要行为[9]。在这些烧结图中,以Ts / Tm比计,烧结温度Ts与熔点Tm之比在0.5至0.95之间。随着CSP的引入,这是一个利用瞬态化学相的过程,具有中等压力和低温≈300°C,现已证明对许多材料,超过80种不同的材料具有不同的组成,晶体结构和化学键[10] –12]。冷烧结使用开放式系统,该系统可以蒸发和损失瞬态相。在经历烧结的颗粒之间的界面处,它有助于重新排列,溶解沉淀蠕变和晶粒长大。允许通过压力溶液蠕变机制提高运输动力学,该机制将化学溶解从颗粒之间的高度受限区域驱散到液体溶剂中,然后从接触点沿晶界迅速扩散,然后在约束较少的孔表面沉淀[ 13,14]。除了通过冷烧结演示温度比Ts / Tm <0.1的致密化工艺外,还演示了将不同材料共烧结的方法,从而可以制造新型复合材料。晶界处的纳米材料(例如2D材料[15],热固性[16]和热塑性聚合物[17-19])都是针对晶界特性的。CSP的强大功能的另一个重要证明是修改了传统的厚膜制造工艺,以在金属基板和多层器件上形成膜;然后,在低温脱脂后形成有机物,从而使具有不同电化学活性电极材料的设备的原型,例如热电发生器[20],CoG电容器[21]和微带贴片天线[22]。
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冷烧结工艺(CSP)从根本上改变了我们烧结温度范围的概念[6,7]。烧结通常被认为是一种热驱动过程,其中原子扩散导致颗粒物组合中表面能量过剩的减少[8]。这通常是通过密度化和谷物生长过程实现的。典型的烧结温度与材料的熔化温度相关。从机械学上来说,Ashby等人最全面地概述了在施加应力和温度下支持和控制扩散质量运输过程的重要行为[9]。在这些烧结图中,烧结温度、T 和熔点 Tm 的比率在 Ts/Tm 比率的 0.5 到 0.95 之间。随着CSP的引入,这是一个利用瞬态化学相的过程,中间压力和低温=300°C,现已证明为多种材料,超过80种不同的材料,成分、晶体结构和化学粘结变化很大[10][12]。冷烧结使用开放系统,允许瞬态相的蒸发和损失。在进行烧结的粒子之间的界面上,它有助于重新排列、溶解沉淀蠕变和颗粒生长。允许通过压力溶液蠕变机制增加动力学,该机制驱动化学溶解,从颗粒之间的高度约束区域进入液体溶剂,然后沿颗粒边界从接触点迅速扩散,然后在约束较少的孔面[13,14]处沉淀。除了使用温度比 Ts/Tm = 0.1 的冷烧结进行增化过程的演示外,还有用于共烧不同材料的演示,从而能够制造新型复合材料。这与颗粒边界的纳米材料有关,例如 2D 材料 [15]、热固性 [16] 和热塑性聚合物 [17[19],所有这些都针对颗粒边界特性。CSP力量的另一个重要证明是修改传统制造厚膜工艺,在金属基材和多层装置上形成薄膜;然后,在形成有机物的低温脱绑定后,能够对热电发生器[20]、CoG电容器[21]和微带贴片天线[22]等器件进行原型设计,并采用不同的电化学活性电极材料。
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冷烧结工艺(CSP)从根本上改变了我们对烧结温度范围的概念[6,7]。烧结通常被认为是一个热驱动过程,其中原子扩散导致颗粒群中过量表面能的减少[8]。这通常通过致密化和晶粒生长过程来实现。典型的烧结温度与材料的熔化温度有关。机械上,Ashby等人。最全面地概述了在外加应力和温度下实现和控制扩散传质过程的重要行为[9]。在这些烧结图中,按Ts/Tm的比值,烧结温度Ts和熔点Tm的比值在0.5到0.95之间。随着CSP的引入,CSP是一种利用瞬态化学相的工艺,具有中压和低温度≈300°C,现在已经证明它适用于许多材料,超过80种不同的材料,其成分、晶体结构和化学键合变化很大[10–12]。冷烧结采用开放式系统,允许瞬态相的蒸发和损失。在烧结颗粒之间的界面,它有助于重排、溶解沉淀蠕变和晶粒长大。通过压力-溶液蠕变机制,允许传输具有更高的动力学,该机制驱动化学溶解从颗粒间高度受限的区域进入液体溶剂,然后沿晶界从接触点快速扩散,然后在约束较少的孔表面沉淀[13,14]。除了展示冷烧结时温度比Ts/Tm<0.1的致密化过程外,还演示了不同材料的共烧结,从而有能力制造新型复合材料。在晶界的纳米材料,如二维材料[15]、热固性材料[16]和热塑性聚合物[17-19],都以晶界特性为目标。CSP的另一个重要的证明是,它改进了传统的厚膜制造工艺,在金属基板和多层器件上形成薄膜;然后,在低温脱脂后形成有机物,使诸如热电发电机[20]、齿槽电容器[21]和微带线等器件的原型化成为可能贴片天线[22],具有不同的电化学活性电极材料。<br>
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