2.3 Sequence of TestingESD tests sh

2.3 Sequence of TestingESD tests shall be performed on separate samples. These samples shall then be subjected to an ISO 16750 -45.3.2, Rapid change of temperature with specified transition duration, 200 cycles with a dwell time of at least 1h.Following this the I/O parametric values shall be revalidated.Perform the remaining EMC tests on non ESD tested samples in any order. This is to prevent the EMCvalidation to be performed on possibly degraded samples.

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2.3测试顺序 ESD测试应在单独的样品上进行。然后，应对这些样品进行ISO 16750 -4 5.3.2规定的过渡持续时间，200个循环以及至少1h的停留时间的温度快速变化。 此后，应重新验证I / O参数值。 以任何顺序对未经过ESD测试的样品执行其余的EMC测试。这是为了防止 对可能降解的样品执行EMC验证。

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2.3 测试序列 ESD 测试应在单独的样品上进行。然后，这些样品应受到ISO 16750-4 5.3.2，温度的快速变化，具有指定的过渡持续时间，200个周期，停留时间至少为1小时。 在此之后，应重新验证 I/O 参数值。 按任何顺序对非 ESD 测试样本执行剩余的 EMC 测试。这是为了防止 EMC 对可能退化的样品进行验证。

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2.3试验顺序 ESD试验应在单独的样品上进行。这些样品应符合ISO 16750-4的要求 5.3.2，温度快速变化，具有规定的过渡时间，200次循环，停留时间至少为1h。 在此之后，应重新验证I/O参数值。 按任何顺序对未经ESD测试的样品进行剩余的EMC测试。这是为了防止EMC 对可能降解的样品进行验证。

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