FTA要因分析の結果、メッキ⼯程で使⽤する通電球が、製品と共に測定⼯程の回転盤の製品ポケットに⼊ってしまい、製品が製品ポケットからはみ出したことで、設備と⼲渉し、パターン部の剥がれが発⽣したと推測します。弊社⽣産⼯程を確認、また再現試験を実施致しました結果、メッキ⼯程で使⽤する通電球が製品と共に次の測定⼯程に混⼊し、測定⼯程のパーツフィーダーの回転盤の製品ポケットに通電球が侵⼊することが発覚しました。結果、通電球が侵⼊している製品ポケットからはみ出した製品のパターン部がガイドにぶつかり、パターン部の剥がれが発⽣しました。