These low κL were associated with t

These low κL were associated with the large density of grainboundaries, interphase Te, and crystal defects such as stackingfaults. Notice that the κL values obtained were still above thetheoretical minimum calculated using the half-wavelengthmodel proposed by Cahill

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这些低的κL与大的晶 界密度，相间Te和晶体缺陷（例如堆垛层 错）有关。请注意，获得的κL值仍高于 使用 Cahill提出的半波长模型计算出的理论最小值

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这些低βL与大密度的谷物有关 边界、相间 Te 和晶体缺陷，如堆叠 故障。请注意，获得的 βL 值仍高于 使用半波长计算的理论最小值 卡希尔提出的模型

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这些低k-L与籽粒密度大有关 界面、相间Te和晶体缺陷，如堆垛 错误。注意，所获得的k-L值仍然高于 用半波长计算的理论最小值 卡希尔提出的模型

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