As CSPed sample exhibited low condu

As CSPed sample exhibited low conductivity(0.041 mS/cm) due to low density (~83%) and the formation of second phase along grain boundaries [48]. After post-annealed at 1200°C, the sample showed pure phase with the increased density (~98%) and ionic conductivity (1.406 mS/cm) [48].

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作为CSPed样品表现出低导电性（0.041毫秒/厘米）由于密度低（〜83％）和第二相位的沿晶界的形成[48]。在1200℃下退火后，之后，将样品显示纯相用密度增加（〜98％）和离子电导率（1.406毫秒/厘米）[48]。

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由于CSPed样品由于低密度（+83%）而表现出低电导率（0.041 mS/cm）并沿谷物边界形成第二阶段[48]。在1200°C退火后，样品显示纯相，密度增加（+98%）和离子电导率（1.406 mS/cm）[48]。

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由于低密度（~83%）和沿晶界形成第二相[48]，CSPed样品表现出低电导率（0.041 mS/cm）。在1200℃退火后，样品显示出纯相，密度增加（~98%）和离子电导率（1.406ms/cm）[48]。

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