STRUCTURED ILLUMINATION MICROSCOPY

STRUCTURED ILLUMINATION MICROSCOPY (SIM)The light sheet is stepped along 5 discrete phase steps on the X axis in either sheet scan or sample scan mode. Five raw images are collected that are reconstructed to produce an image that is beyond the diffraction limit of the detection objective

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结构照明显微镜（SIM） 的光片沿上在任一薄片扫描或样品扫描模式X轴5个离散相步骤台阶。五个原始图像所收集的被重建以产生图像，超出所述检测目标的衍射极限

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结构照明（SIM） 在图纸扫描或样品扫描模式下，沿着 X 轴上的 5 个离散相位步骤步进光片。收集五个原始图像，这些原始图像被重建，以生成超出检测目标的衍射极限的图像

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结构光显微镜 在纸张扫描或样品扫描模式下，光片沿着X轴上的5个离散相位台阶前进。采集五幅原始图像，重建后的图像超出检测目标的衍射极限

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