9.7.8 Verification of protective conductor contact behaviour9.7.8.1 Ve的简体中文翻译

9.7.8 Verification of protective co

9.7.8 Verification of protective conductor contact behaviour9.7.8.1 Verification of protective conductor contact coupling when closingThe tests, by changing the pilot status from state B to state C, shall verify that the protective conductor does not close later than L or N contacts close. The tests are made at 0.85 times and 1.1 times of rated voltage. 9.7.8.2 Verification of protective conductor contact coupling when openingThe tests shall verify, by changing the pilot status from state C to state B, that the protective conductor does not open earlier than L and N open. The tests are made at 0,85 times and 1.1 times of rated voltage and when the supply voltage is slowly reduced down to 50 V a.c. The protective conductor contact function should be verified. One sample of IC-CPD shall be prepared that will not open the L contact again after closing (thus simulating a welded L contact). The test is performed as follows:The contacts are activated by using the control pilot transition from B to C. The protective conductor contact shall be verified to be closed. The contacts are then initiated to open by the control function transition from C to B.The result shall be that the L contact remains closed (simulated welded L contact) and that the protective conductor contact does not open.
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9.7.8 保护导体接触行为<br>的验证 9.7.8.1 闭合时保护导体接触耦合<br>的验证 通过将先导状态从状态 B 更改为状态 C 的测试,应验证保护导体不晚于 L 或 N 触点闭合关闭。试验分别在额定电压的0.85倍和1.1倍下进行。<br>9.7.8.2 开路时保护导体接触耦合<br>的验证 试验应通过将先导状态从状态 C 更改为状态 B 来验证保护导体没有在 L 和 N 开路之前开路。测试是在额定电压的 0.85 倍和 1.1 倍下进行的,当电源电压缓慢降至 50 V ac 时,应验证保护导体的接触功能。<br>应准备一个 IC-CPD 样品,该样品在闭合后不会再次打开 L 触点(从而模拟焊接的 L 触点)。<br>测试按如下进行:<br>通过使用从 B 到 C 的控制导频转换来激活触点。应验证保护导体触点已闭合。<br>然后通过控制功能从 C 转换到 B ,触点开始打开。<br>结果应是 L 触点保持闭合(模拟焊接 L 触点)并且保护导体触点不打开。
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9.7.8保护导体接触行为的验证<br>9.7.8.1闭合时保护导体接触耦合的验证<br>通过将导频状态从状态B更改为状态C,试验应验证保护导体不会在L或N触点闭合后闭合。试验在0.85倍和1.1倍额定电压下进行。<br>9.7.8.2打开时保护导体接触耦合的验证<br>通过将导频状态从状态C更改为状态B,试验应验证保护导体的开路时间不早于L和N开路时间。在0.85倍和1.1倍额定电压下进行试验,当电源电压缓慢降低至50 V a.c.时,应验证保护导体接触功能。<br>应制备一个IC-CPD样品,该样品在闭合后不会再次打开L触点(从而模拟焊接的L触点)。<br>试验按如下方式进行:<br>通过使用从B到C的控制导频转换激活触点。应验证保护导体触点闭合。然后,触点由启动开关打开<br>控制功能从C转换到B。<br>结果应为L触点保持闭合(模拟焊接L触点),保护导体触点不打开。
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9.7.8保护导体接触行为的验证闭合时保护导体接触耦合的9.7.8.1验证通过将试验状态从状态B更改为状态C,测试应验证保护导体不会在L或N触点闭合后闭合。试验在额定电压的0.85倍和1.1倍下进行。打开时保护导体接触耦合的9.7.8.2验证通过将先导状态从状态C变为状态B,测试应验证保护导体不会早于L和N断开。测试是在额定电压的0、85倍和1.1倍下进行的,当电源电压缓慢降低到50 V a.c .时,应验证保护导体接触功能。应准备一个IC-CPD样品,该样品在闭合后不会再次打开L触点(从而模拟焊接L触点)。测试执行如下:使用从B到c的控制先导转换激活触点。应验证保护导体触点是否闭合。然后,触点开始由断开控制从C到b的功能转换。结果应该是L触点保持闭合(模拟焊接L触点),保护导体触点不会断开。
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