Inspection for waviness of the disp

Inspection for waviness of the display active area surface must be performed using both Apple-approved equipmen (also known as shadowgraph/SGT equipment) and by operator visual inspection. Visual inspection is to be used as a supplement to SGT inspection (follow SQE guidance), to identify: • new or severe failures not targeted by existing SGT algorithms • failures not feasible to capture by SGT (e.g. due to close distance to edge, due to feature size, etc.)

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必须同时使用苹果批准equipmen（也称为阴影/ SGT设备）和由操作者目视检查来执行在显示有效区域面的波纹检测。外观检查被用作补充SGT检查（后续SQE指导），以确定： •新的或严重的故障不是由现有的SGT算法针对 由于到边近距离，由于SGT（如捕获不可行•故障到特征尺寸等）

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必须使用 Apple 批准的设备（也称为阴影图/SGT 设备）和操作员目视检查来检查显示活动区域表面的波纹。目视检查将用作 SGT 检查的补充（遵循 SQE 指南），以确定： • 现有 SGT 算法未针对的新故障或严重故障 • SGT 无法捕获故障（例如，由于距离边缘很近，由于要素大小等原因）

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必须使用苹果公司批准的设备（也称为阴影图/SGT设备）和操作员目视检查来检查显示器活动区域表面的波纹度。目视检查将作为SGT检查的补充（遵循SQE指南），以确定： 不存在现有SGT算法的新的或严重的故障 •SGT无法捕获的故障（例如，由于靠近边缘、由于特征尺寸等）

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