시험편의 크기에 대한 상수 b의 의존성은 강도 크기 효과의 결과이며, 고무의 인장 강도 하의 손상은 주로 표면 결함으로 인해 응력이 집중되는 인열 과정에 기인한다. <br>위의 그래픽 테스트는 햇빛과 오존없이 20 ° C에서 수행되었으며, 아래 그림 4.4는 더 높은 온도에서의 결과이며 다른 조건은 동일합니다.
테스트 칩 크기에 대한 상수 b의 의존성은 강도 크기 효과의 결과이며, 고무의 인장 하에서 손상은 주로 표면 결함으로 인한 응력 농도의 찢어짐 과정에 기인한다.<br>위의 도예 시험은 20도 C에서 햇빛과 오존 조건이 없음을 보여 주며, 그림 4.4는 더 높은 온도 및 동일한 다른 조건에서 다른 조건의 결과이며, 그는 다음 시험 공식을 사용하여 설명 할 수 있습니다.
상수 b 시험 편 사이즈 에 대한 의존 도 는 강도 치수 효과 의 결과 이 고 고무 의 인장 하의 손상 은 주로 표면 결함 때문에 응력 하여 집 중 된 찢 어 지 는 과정 입 니 다.<br>위의 그림 에서 시험 은 20 ℃ 에서 햇빛 과 오존 조건 이 없 는 것 을 보 여 주 었 고, 아래 그림 4.4 는 높 은 온도 에서 다른 조건 이 같 을 때 그 는 아래 의 시험 공식 에 대해 묘사 할 수 있다.