However, the intensity of N K-edge declines in CN–B as com￾pared with 的简体中文翻译

However, the intensity of N K-edge

However, the intensity of N K-edge declines in CN–B as com￾pared with that of pristine g-C3N4, the electron back-donation
from B to N site could be then expected in CN–B, in consid￾eration of the lower electronegativity of boron than carbon and
nitrogen. For CN–H, the intensity of N K-edge is lower than
that of g-C3N4, which could be explained by the nitrogen defects
introduced in CN–H.[24] Particularly, the peak intensity ratio of
N1/N2 (≈1.3, Table S4, Supporting Information) in CN–H is
larger than that in g-C3N4 (≈1.2, Table S4, Supporting Informa￾tion), revealing that there are more defects at N2 sites in CN–H,
mainly because the length of N2–C bridge bond is longer than
that of N1–C, N2–C has lower covalent intensity than N1–C,
and thus N2–C breaks more easily than N1–C.[24] For BH400,
it is obviously observed that both N1 peak and N2 peak are less
intense as compared with CN–B or CN–H, meaning that both
the electron back-donation effect and the nitrogen de
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然而,N K边缘下降的在CN-B作为COM强度???与原始G-C3N4的削减,电子背捐赠<br>从B到n个站点可以在CN-B被接料,在consid? ??硼除碳和下部电负性的关合作<br>氮。对于CN-H,N K边缘的强度是低于<br>使g-C3N4,这可能由氮缺陷进行说明的<br>在CN-H引入。[24] 特别是,的峰强度比<br>在CN-H N1 / N2(≈1.3,表S4,支持信息)是<br>比G-C3N4较大(≈1.2,表S4,支持Informa的???和灰),揭示有是在CN-H N2站点更多的缺陷,<br>主要是因为N2-C桥键的长度长于<br>该N1-C,N-C具有低的共价强度比N1-C的,<br>因此N2-C比N1-C断裂更容易。[24] 对于BH400,<br>它明显观察到,N1峰和N2峰值不太<br>与CN-B或CN-H,这意味着比较激烈,这两个<br>电子背捐赠效果和氮德
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然而,N K边缘的强度在CN+B中下降,与原始g-C3N4的强度,电子回赠<br>从B到N的站点可以预期在CN+B,在核比碳低电子的电率和<br>氮。对于 CN+H,N K 边缘的强度低于<br>g-C3N4,这可以通过氮气缺陷来解释<br>CN_H._24_ 特别地,<br>N1/N2(=1.3,表 S4,支持信息)在 CN+H 中是<br>大于 g-C3N4(#1.2,表 S4,支持信息),表明 CN+H 中的 N2 站点存在更多缺陷,<br>主要是因为N2°C桥接桥键的长度比<br>N1°C,N2°C的共价强度低于N1°C,<br>因此,对于 BH400,N2_C 的断裂比 N1_C.[24] 更容易断裂,<br>显然观察到N1峰值和N2峰值都较少<br>与 CN+B 或 CN+H 相比强度,这意味着两者<br>电子反捐赠效应和氮气
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然而,cn-b的n k边强度下降,与原始的g-c3n4相比,后者是电子回馈。<br>考虑到硼的电负性比碳低,因此在cn-b中可以预期从b位到n位。<br>氮气。对于cn–h,n k边的强度小于<br>g-c3n4的氮缺陷<br>在cn-h[24]中特别介绍了<br>cn-h中的n1/n2(≈1.3,表s4,支持信息)为<br>大于g-c3n4(≈1.2,表s4,支持信息),说明cn-h中n2位缺陷较多。<br>主要是因为n2-c桥键的长度大于<br>n1-c的共价强度比n1-c低,<br>因此,对于BH400来说,N2-C比N1-C更容易断裂。<br>很明显,n1峰和n2峰都较小<br>与CN-B或CN-H相比,强烈,这意味着两者<br>电子回馈效应与氮de<br>
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