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Due to the low forces used in AFM,
Due to the low forces used in AFM, the ability to operate under ambient temperatures, and the use of a physical probe (as opposed to the electron probe alternative of the SEM), the AFM is suited for studying material microstructure, particularly in opaque materials which are difficult to investigate with optical microscopy techniques.
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由于在AFM中使用的低的力，在环境温度下操作的能力，以及使用的<br>一个物理探针（相对于SEM的电子探针的替代），原子力显微镜适合用于研究材料的微观结构，特别是在不透明材料这是很难用光学显微镜技术进行调查。
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由于 AFM 中使用的力较低，因此能够在环境温度下操作，并且使用<br>AFM 是一种物理探针（与 SEM 的电子探针替代物相反），适用于研究材料微观结构，特别是在光学显微镜技术难以研究的不透明材料中。
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由于AFM中使用的力较低，能够在环境温度下工作，并且使用<br>AFM是一种物理探针（与SEM的电子探针不同），它适合于研究材料的微观结构，特别是在不透明材料中，这种材料很难用光学显微镜技术进行研究。
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