The way in which creepage distances and clearances are measured is ind的简体中文翻译

The way in which creepage distances

The way in which creepage distances and clearances are measured is indicated in Annex A.Distances through slots or openings in external parts of insulating material are measured to the metal foil in contact with the accessible surface; the foil is pushed into corners and the like by means of the standard test probe B of IEC 61032:1997, but is not pressed into openings.The sum total of distances measured between parts operating at hazardous voltage and accessible surfaces is determined by measuring the distance from each part to the accessible surface. The distances are to be added together to determine the sum total. See Figure K.1. For the purpose of this determination, one of the distances shall be 1,0 mm or greater. See Annex A, cases 1 to 10.If necessary, a force is applied to any point on bare conductors and to the outside of metal enclosures, in an endeavour to reduce the creepage distances and clearances while taking the measurements.The force is applied by means of the test probe B of IEC 61032:1997 and has a value of:– 2 N for bare conductors;– 30 N for enclosures.Means provided for fixing the tool to a support are considered to be accessible.
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爬电距离和电气间隙的测量方法见附件A。<br>绝缘材料外部穿过槽或开口的距离是测量到与易触及表面接触的金属箔的距离。借助IEC 61032:1997的标准测试探针B将铝箔推入角落等处,但不压入开口。<br>通过测量每个零件到易触及表面之间的距离,可以确定在危险电压下工作的部件与易触及表面之间测得的总距离。距离应加在一起以确定总和。见图K.1。为了确定目的,距离之一应为1,0 mm或更大。见附件A,情况1至10。<br>如有必要,可在裸导体上的任何点以及金属外壳的外部施加力,以在进行测量时努力减小爬电距离和电气间隙。<br>该力通过IEC 61032:1997的测试探针B施加,其值为:<br>–裸导体2 N;<br>–机箱30N。<br>认为可将工具固定到支架上的装置是可接近的。
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附件A中指明了测量蠕变距离和间隙的方式。<br>绝缘材料外部部分的槽或开口的距离被测量到金属箔上,与可进入的表面接触;铝箔通过IEC 61032:1997的标准测试探头B推入角等,但不压入开口。<br>通过在危险电压下运行的零件和可访问表面之间测量的距离总和通过测量从每个零件到可访问表面的距离来确定。将距离加在一起以确定总和。参见图 K.1。为进行此确定,其中一个距离应为 1,0 mm 或更大。见附件A,案例1至10。<br>如有必要,在裸导体和金属外壳外部的任何点上施加力,以努力在测量时减少蠕变距离和间隙。<br>该力通过IEC 61032:1997的试验探针B施加,其值为:<br>• 2 N,用于裸导体;<br>• 30 N 用于机柜。<br>用于将工具固定为支持提供的方法被视为可访问。
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爬电距离和电气间隙的测量方法见附录A。<br>通过绝缘材料外部部分中的槽或开口,测量到与可接近表面接触的金属箔的距离;通过IEC 61032:1997的标准测试探针B将箔推入角落等,但不压入开口。<br>在危险电压下工作的部件和可接近表面之间测量的总距离通过测量每个部件到可接近表面的距离来确定。这些距离要加在一起,以确定总和。见图K.1。在本测定中,其中一个距离应大于等于1.0 mm。见附件A,案例1至10。<br>如有必要,对裸导体上的任何点和金属外壳的外部施加一个力,以便在进行测量时减小爬电距离和间隙。<br>该力通过IEC 61032:1997中的测试探针B施加,其值为:<br>–裸导体为2N;<br>–外壳30 N。<br>将工具固定在支架上的装置被认为是可接近的。
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