Each site (SDC HQ, SSM) confirms th

Each site (SDC HQ, SSM) confirms the phenomenon and the results of the first analysis are the same.→ Abnormal Input signal due to L2 Coil Fail at Von Boost stage→ It is presumed that Cause is IC material damage caused by the usage environment.→ It is not Panel ASG caused defect.In addition, SDC will analyze the Coil single product(by Component company), SET condition analysis,and proceed the test for studying the detailed condition of A/D and over stress occurrencewhen exceeding 144Hz. (using condition)>

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每个站点（SDC HQ，SSM）确认现象和第一分析的结果是相同的。 →由于L2线圈故障在冯·升压级正常输入信号 →据推测，原因是由使用环境IC材料损坏。 →它不是面板ASG引起缺陷。 此外，SDC将分析线圈单品（由成分公司），SET条件分析， 并继续测试用于研究A / d的和过应力发生的详细条件 超过144Hz时。（使用状态） >

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每个站点（SDC 总部、SSM）确认该现象，第一次分析的结果相同。 • 由于 L2 线圈在 Von 升压阶段发生故障而导致的异常输入信号 * 假定原因是IC物质损坏造成的使用环境。 * 它不是面板 ASG 引起的缺陷。 此外，SDC还将分析线圈单一产品（按组件公司）、SET状态分析、 并着手研究A/D和过应力发生的详细情况 超过 144Hz 时（使用条件） >

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每个站点（SDC HQ，SSM）都确认了这种现象，并且第一次分析的结果是相同的。 ？？在Von Boost阶段，由于L2线圈故障导致输入信号异常 ？？推测原因是使用环境造成的集成电路材料损坏。 不是面板ASG引起的缺陷。 此外，SDC还将对线圈的单个产品（按部件公司）进行分析，设定条件分析， 并进行试验研究A/D和过应力发生的详细情况 超过144Hz时。（使用条件） >

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