TEM의 설계 원리는 매우 얇은 시료에 가속되고 집중된 전자선을

TEM의 설계 원리는 매우 얇은 시료에 가속되고 집중된 전자선을 투사하는 것입니다 전자는 시료의 원자와 충돌하여 방향을 변경하여 각도 산란을 일으 킵니다. 산란 각도의 크기는 샘플의 밀도와 두께에 따라 다르므로 다른 밝고 어두운 이미지를 형성 할 수 있습니다. 이미지가 확대되고 초점이 맞춰지면

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TEM的设计原理是将加速的聚焦电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞，改变方向，从而引起角散射。散射角的大小取决于样品的密度和厚度，因此可以形成不同的明暗图像。当图像放大并聚焦时

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TEM 的设计原理是在非常薄的样品上投射加速和聚焦电子线，其中电子与样品的原子碰撞，改变方向，导致角度散射。散射角度的大小取决于样品的密度和厚度，因此您可以形成不同的明亮和暗图像。当图像放大并聚焦时，

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TEM的设计原理是加速到很薄的样品中，将集中的电子射线进行透射，前者会与样品的原子发生碰撞，改变方向，引起角度散射。产卵角度的大小取决于样品的密度和厚度，可以形成不同的明亮黑暗图像。如果形象被放大和调焦。<br>

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