The admittance technique is used to

The admittance technique is used to solve Maxwell's equations for an inhomogenous system consisting of a surface liquid film of low-absorbing (insulating) material on a metallic aluminium substrate. The power reflectivity spectrum in σ and π polarisation is easily discernible and is amplified to full scale for most angles of incidence. The reflectivity spectrum is very sensitive to the thickness of the liquid film and to the angle of incidence. This provides scope for using this technique to detect thin films of polymer material on metal substrates, oxide films, interfaces and so on.

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导纳技术用于求解不均匀系统的麦克斯韦方程，该系统由金属铝基板上低吸收（绝缘）材料的表面液膜组成。σ极化和π极化的功率反射光谱很容易辨别，并在大多数入射角处被放大到满刻度。反射光谱对液膜的厚度和入射角非常敏感。这为使用该技术检测金属基材上的聚合物材料薄膜，氧化膜，界面等提供了范围。

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允许技术用于求解 Maxwell 的方程，该系统由金属铝基板上低吸收（绝缘）材料的表面液体膜组成。α 和 β 极化中的功率反射率光谱很容易识别，在大多数射向角度中被放大到全尺度。反射率谱对液体薄膜的厚度和入射角非常敏感。这为利用该技术检测金属基材、氧化物薄膜、界面等聚合物材料的薄膜提供了空间。

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采用导纳法求解了金属铝基低吸收（绝缘）材料表面液膜组成的非均匀系统的麦克斯韦方程。σ和π偏振的功率反射率谱很容易识别，并且在大多数入射角下放大到满标度。反射率谱对液膜厚度和入射角非常敏感。这为利用该技术在金属基底、氧化膜、界面等上检测高分子材料薄膜提供了空间。

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