As shown in the top view, above, of

As shown in the top view, above, of the optical setup for zeta potential measurements in the SZ-100, the particles are illuminated with laser light and, therefore,the particles scatter light. A second beam of light (the reference beam) is mixed with the scattered beam in order to sensitively extract the frequency shift in the scattered light. The measured magnitude of the frequency shift is then used to determine the particle velocity. Equation 1 is used to calculate the electrophoretic mobility (µ) using the measured frequency shift.

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如上方的俯视图所示，在SZ-100中用于zeta电势测量的光学装置中，粒子被激光照射，因此粒子会散射光。第二光束（参考光束）与散射光束混合，以便灵敏地提取散射光中的频移。然后，将测得的频移幅度用于确定粒子速度。公式1用于使用测得的频移计算电泳迁移率（µ）。

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如上图所示，在 SZ-100 中，zeta 电位测量的光学设置中，粒子使用激光照明，因此，粒子散射光。第二束光束（参考光束）与散射光束混合，以便敏感地提取散射光的频率偏移。然后，使用频率偏移的测量幅度来确定粒子速度。公式 1 用于使用测量的频率偏移计算电泳移动性（μ）。

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如上图所示，在SZ-100的zeta电位测量光学装置中，粒子被激光照射，因此粒子散射光。第二束光（参考光）与散射光混合以敏感地提取散射光中的频移。然后利用测得的频移大小来确定粒子速度。方程1用于使用测量的频移计算电泳迁移率（μ）。<br>

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