Assessing performance metrics via a photo-inverter. Key performance me的简体中文翻译

Assessing performance metrics via a

Assessing performance metrics via a photo-inverter. Key performance metrics54, such as photoresponsivity (Supplementary Note 1), noise-equivalent power, specific detectivity (Supplementary Note 5, Supplementary Fig. 18 and Supplementary Table 3) and response time (Supplementary Note 6 and Supplementary Fig. 19) are traditionally defined for photodiodes. Since phototransistors combine detection and amplification into a single device, it is more informative to consider their utility as a circuit element. Here we propose a simple circuit route that uses a photoinverter (Fig. 6a) to assess a phototransistor’s performance metric in a manner more applicable for optoelectronic circuit design. To demonstrate this concept, a PMOS-like photo-inverter served as a common-source amplifier was fabricated using two identical FACs HJPTs, where HJPT-1 and HJPT-2 respectively, were employed as the depletion load and electrical switch controlled by the input voltage signal (VIN). In this unipolar configuration, one can directly evaluate the intrinsic amplification (Ai) of the optoelectronic components (e.g. HJPT-1 and HJPT-2) for amplifying input signals55 as the latter is the main advantage for using an active electronic component like phototransistors. Moreover, Ai is an important criterion to separate a phototransistor from a photoconductor as a high Ai requires the saturation of ID (Supplementary Note 7 and Supplementary Fig. 20).
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经由光逆变器评估性能度量。关键性能metrics54,如光响应(补充说明1),噪声等效功率,SPECI音响Ç探测(补充说明5,补充图18和补充表3)和响应时间(补充说明6和补充图19)是传统上德音响奈德为光电二极管。由于光电晶体管结合检测和扩增fi阳离子到一个单一的设备,它是更多的信息,以考虑其效用作为电路元件。在这里,我们提出一种使用photoinverter(图6a),以评估在更适用于光电子电路设计的方式光电晶体管的性能度量的简单电路路径。为了证明这一概念,担任一个共源扩增fi er一个PMOS状光逆变器,使用两个相同的FACs HJPTs制成,其中HJPT-1和HJPT-2分别被用作耗尽负载和电开关由输入电压信号(VIN)控制。在该单极CON组fi guration,人们可以直接评估光电元件的特性扩增fi阳离子(AI)(例如HJPT-1和HJPT-2),用于放大输入signals55因为后者是用于使用有源电子元件等光电晶体管的主要优点。此外,A 1是分离从光电导体光电晶体管的一个重要标准作为高艾需要ID(补充说明7和补充图20)的饱和度。HJPT-1和HJPT-2),用于放大输入signals55因为后者是用于使用有源电子元件等光电晶体管的主要优点。此外,A 1是分离从光电导体光电晶体管的一个重要标准作为高艾需要ID(补充说明7和补充图20)的饱和度。HJPT-1和HJPT-2),用于放大输入signals55因为后者是用于使用有源电子元件等光电晶体管的主要优点。此外,A 1是分离从光电导体光电晶体管的一个重要标准作为高艾需要ID(补充说明7和补充图20)的饱和度。
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通过光逆变器评估性能指标。关键性能指标54,如光照率(补充说明1)、噪声等效功率、特定检测率(补充说明5、补充图18和补充表3)和响应时间(补充说明6和补充图6)。19) 传统上定义为光电二极管。由于光晶体管将检测和放大合并到单个器件中,因此将它们的效用视为电路元件更具有信息性。在这里,我们提出了一个简单的电路路由,它使用光逆变器(图6a)来评估光晶体管的性能指标,其方式更适用于光电电路设计。为了证明这一概念,使用两个相同的 FAC HJPT(分别使用 HJPT-1 和 HJPT-2)作为电荷负载和由输入控制的电气开关,制造了一种类似于 PMOS 的光变频器作为公用源放大器。电压信号 (VIN)。在这种单极配置中,可以直接评估光电元件(例如HJPT-1和HJPT-2)用于放大输入信号的内在放大(Ai),因为后者是使用有源电子元件(如光电晶体管。此外,Ai 是将光晶体管与光导体分离的重要标准,因为高 Ai 需要 ID 的饱和度(补充说明 7 和补充图 20)。
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通过光电转换器评估性能指标。传统上,光电二极管的关键性能指标54如光响应率(补充说明1)、噪声等效功率、特定探测率(补充说明5、补充图18和补充表3)和响应时间(补充说明6和补充图19)是经过定义的。由于光电晶体管将检测和放大结合到一个单一的器件中,因此将其作为电路元件的实用性考虑得更为丰富。在这里,我们提出一种简单的电路路径,使用光反相器(图6a)以更适用于光电电路设计的方式来评估光电晶体管的性能度量。为了证明这一概念,使用两个相同的facs-hjpts制作了一个类似pmos的光逆变器,其中hjpt-1和hjpt-2分别用作耗尽负载和由输入电压信号(vin)控制的电子开关。在这种单极配置中,可以直接评估用于放大输入信号55的光电元件(例如hjpt-1和hjpt-2)的固有振幅(ai),因为后者是使用像光电晶体管这样的有源电子元件的主要优点。此外,ai是将光电晶体管与光电导体分离的重要标准,因为高ai需要id的饱和(补充说明7和补充图20)。<br>
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