It is important to note that for the monolithic samples prepared via c的简体中文翻译

It is important to note that for th

It is important to note that for the monolithic samples prepared via cold sintering, the bands associated with Si-O-Si shifted to lower wavenumbers (especially the one around 475 cm−1 moving to ~ 410 cm−1). Certainly, further studies are required to establish the exact mechanism causing such result, yet we still can speculate. The shift might be correlated with depolymerization caused by the sodium ions originating from NaOH solution [14].It was shown for soda lime glasses that the Si-O-Si band around 1050 cm−1 was very sensitive to structural changes and increasing the non-bridging oxygen (NBO) content could result in the IR shift. Such a matter seems to be the case here that with the increasein processing pressure, temperature and especially the NaOH concentration, the amount of NBO was enhanced (assuming no other contributions, and all Na+ is exchanged into the glass structure, then the NBO fraction is calculated to increase from 0.241 with no additive to 0.246 at 5M and 0.254 at 15M for the cold sintered specimens, calculations done based on the starting glass composition and change in the NaOH density within 5-15 M), and thus the formation of a probable gel aided sintering. A similar slight shift of the broad band to higher 2θ angles can be seen from the differences in between the XRD patterns (Fig. 1(b)) of the raw powder and cold sintered glass bodies. There are no measurable crystalline phases, suggesting that the samples maintained their amorphous state after CSP at all processing conditions studied.
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重要的是要注意,对于通过冷烧结制备的整体式样品,与Si-O-Si相关的谱带移动到了较低的波数(尤其是在475 cm-1附近的波移到了410 cm-1)。当然,需要进一步的研究来建立导致这种结果的确切机制,但我们仍然可以推测。该变化可能与源自NaOH溶液的钠离子引起的解聚有关[14]。<br>钠钙玻璃显示1050 cm-1附近的Si-O-Si带对结构变化非常敏感,并且增加非桥连氧(NBO)含量可能导致IR偏移。这样的事情似乎在这里随着增加<br>在处理压力,温度尤其是NaOH浓度方面,NBO的量增加了(假设没有其他贡献,并且所有的Na +被交换为玻璃结构,然后计算出NBO的分数将从无添加剂的0.241增加到0.246对于冷烧结的样品,在5M时为1500℃,在15M时为0.254时,基于起始玻璃组成和NaOH密度在5-15 M范围内的变化进行计算,从而形成可能的凝胶辅助烧结。从原始粉末和冷烧结玻璃体的XRD图谱(图1(b))之间的差异可以看出,宽带向较高的2θ角也有类似的轻微变化。没有可测量的结晶相,表明在所有研究的加工条件下,样品在CSP后仍保持其非晶态。
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需要注意的是,对于通过冷烧结准备的单片样品,与 Si-O-Si 相关的波段转移到较低的波数(尤其是大约 475 厘米±1 的带频段移动到 + 410 cm+1)。当然,需要进一步研究,以确定造成这种结果的确切机制,但我们仍然可以推测。这种转变可能与来自NaOH溶液的钠离子引起的脱聚合物化有关[14]。<br>苏打石灰玻璃表明,1050 cm+1 左右的 Si-O-Si 带对结构变化非常敏感,增加非桥接氧 (NBO) 含量可能会导致 IR 转移。这样的事情似乎在这里的情况,随着增加<br>在加工压力、温度,特别是NaOH浓度, NBO 的量得到增强(假设没有其他贡献,所有 Na+ 被交换到玻璃结构中,然后计算 NBO 分数从 0.241 无添加剂到 0.246 在 5M 和 0.254 在 15M 冷烧结试样,计算基于起始玻璃成分和 NaOH 密度在 5-15 M 内的变化),从而形成一个可能的凝胶辅助烧结。从生粉和冷烧结玻璃体XRD图案(图1(b))之间的差异中可以看到宽带向较高2°角的类似轻微移动。没有可测量的晶体相,表明样品在所研究的所有处理条件下在CSP之后保持其无定形状态。
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值得注意的是,对于通过冷烧结制备的整体样品,与Si-O-Si相关的带移到较低的波数(尤其是475 cm−1左右的频带移动到~410 cm−1)。这样的机制我们还需要进一步的研究来确定。这种变化可能与来自NaOH溶液的钠离子引起的解聚有关[14]。<br>结果表明,对于钠钙玻璃,1050cm−1附近的Si-O-Si带对结构变化非常敏感,增加非桥氧(NBO)含量会导致IR偏移。这种情况在这里似乎是这样的,随着增长<br>在加工压力、温度,尤其是NaOH浓度时,NBO的含量增加(假设没有其他影响,并且所有Na+都被交换到玻璃结构中,则计算出冷烧结试样的NBO分数从不添加添加剂的0.241增加到5M处的0.246和15M处的0.254,根据起始玻璃成分和5-15 M内NaOH密度的变化进行计算,从而形成可能的凝胶辅助烧结。从原粉体和冷烧结玻璃体的XRD图谱(图1(b))之间的差异可以看出,宽带向更高的2θ角的类似轻微移动。没有可测量的晶相,表明在所有研究的工艺条件下,CSP后样品保持了非晶态。<br>
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