EQCM experiments were performed wit

EQCM experiments were performed with an INFICON Phase Lock Oscillator (5 MHz quartz), using Au electrodes. Morphologies were determined with a Sigma Zeiss Field Emission SEM equipped with Oxford X-Max EDS system. EDS analyses were performed at 20 kV. X-ray Diffraction (XRD) patterns were obtained with a Philips X-PERT PW3710 diffractometer, employing a CuKα source (40 kV, 30 mA).

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使用INFICON锁相振荡器（5 MHz石英）和Au电极进行EQCM实验。形态由配备牛津X-Max EDS系统的Sigma Zeiss场发射SEM确定。EDS分析在20 kV下进行。使用Philips X-PERT PW3710衍射仪，使用CuKα源（40 kV，30 mA）获得X射线衍射（XRD）图。

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EQCM 实验使用 INFICON 相锁振荡器（5 MHz 石英）使用 Au 电极进行。使用配备牛津 X-Max EDS 系统的西格玛蔡司现场排放 SEM 确定变形。EDS 分析在 20 kV 下执行。使用飞利浦 X-PERT PW3710 衍射仪（使用 CuK® 源（40 kV，30 mA）获得 X 射线衍射（XRD）模式。

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用INFICON锁相振荡器（5mhz石英）和Au电极进行了EQCM实验。采用Sigma-Zeiss场发射扫描电镜（SEM）结合Oxford X-Max能谱仪对样品进行了形貌测定。在20kv下进行EDS分析。利用Philips X-PERT PW3710衍射仪，采用CuKα源（40kv，30ma），获得了X射线衍射谱（XRD）。

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