Scanning Electron microscope sample

Scanning Electron microscope samples are required in a high vacuum. The intense vaporization of aqueous and dehydrated solutions under high vacuum conditions not only affects the vacuum state, pollutes the sample, but also destroys the fine structure of the sample. Therefore, the sample must be dried before it can be examined by an electron microscope. There are several drying methods:

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在高真空下需要扫描电子显微镜样品。高真空条件下水溶液和脱水溶液的强烈汽化不仅影响真空状态，污染样品，而且破坏样品的精细结构。因此，必须先干燥样品，然后才能通过电子显微镜对其进行检查。有几种干燥方法：

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在高真空中需要扫描电子显微镜样品。在高真空条件下，水溶液和脱水溶液的强烈蒸发不仅影响真空状态，污染样品，而且破坏样品的精细结构。因此，样品必须干燥，然后才能通过电子显微镜进行检查。有几个干燥方法：

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扫描电子显微镜样品需要在高真空下进行。在高真空条件下，水溶液和脱水溶液的剧烈蒸发不仅影响真空状态，污染样品，而且破坏样品的精细结构。因此，样品必须干燥后才能用电子显微镜检查。有几种干燥方法：<br>

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