万源通へ送付頂き、メーカー見解の入手をお願いします。(以前の万源通の解析結果では、レジストの密着不足による浮きが発生し銅イオンが移動、短絡したとの事でした) 最低限、下記内容のメーカー見解の入手をお願いします。何故レジスト浮きが起こるのか。その原因は?傾向性は無いのか(量産基板は問題無いのか)? 今回のNG要因はテストピースサンプルに限定されたもので、量産基板に影響を及ぼすものでは無い事を説明しているメーカー見解の入手をお願いします。日本側で考えているNG要因の一例を下記しますので、万源通へアドバイスしてください。・テストピースへの異物付着・テストピース作成時の不備・テストピースの取り扱い不備・試験環境の不備。 回答希望:1/25(月)