Samples were mounted on carbon tape

Samples were mounted on carbon tape and sputtered with a 15 nm thick gold layer as a conductive coating.SEM was performed using a Phillips Inspect F in secondary and backscattered modes, and energy dispersive X-ray analysis (EDX) was conducted using an EDAX EDX detector.

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样品安装在碳胶带和具有15纳米厚的金层作为溅射用十字所执行的导电coating.SEM在二次和背散射模式检查F和使用EDAX EDX进行了能量分散型X射线分析（EDX）探测器。

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样品被安装在碳胶带上，并溅出15纳米厚的金层作为导电涂层。SEM在辅助和背部散射模式下使用菲利普斯检测F进行，能量分散X射线分析（EDX）使用EDAX EDX探测器进行。

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将样品安装在碳带上，以15nm厚的金层作为导电涂层进行溅射，在二次和后向散射模式下使用菲利普斯（Phillips）探测器F进行扫描电镜（SEM），并使用EDAX-EDX探测器进行能量色散X射线分析（EDX）。

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