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샘플링하기 전에 먼저 칩 (예 : 칩 선택 CS)을 선택한 다음

샘플링하기 전에 먼저 칩 (예 : 칩 선택 CS)을 선택한 다음 클럭 하강 에지 (CLK) 전에 데이터를 샘플링해야합니다. 마지막으로 샘플링에서 누락을 방지하기 위해 프로그램이 끝나기 전에 검사 프로그램을 설계해야합니다.

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结果 (简体中文) 1: [复制]

复制成功！

采样之前，您必须先选择芯片（例如Chip Select CS），然后在时钟下降沿（CLK）之前对数据进行采样。最后，为了防止丢失样本，必须在程序结束之前设计检查程序。

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结果 (简体中文) 2:[复制]

复制成功！

在采样之前，首先需要选择芯片（例如芯片选择 CS），然后在时钟下降边缘（CLK）之前对数据进行采样。最后，为了防止采样遗漏，您需要在程序结束之前设计扫描程序。

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结果 (简体中文) 3:[复制]

复制成功！

在采样前先选择芯片（如：选择芯片CS），然后在时钟下降前（CLK）先采样数据。最后，为了防止采样中的遗漏，程序结束前必须设计检查程序。<br>

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