Silicon ICs are typically fabricated (manufactured) using  or  silicon的简体中文翻译

Silicon ICs are typically fabricate

Silicon ICs are typically fabricated (manufactured) using or silicon. In bulk micromachining, an anisotropic (unidirectional) etchant, such as ethylene-diamine-pyrocatechol (EDP), hydrazine (N2H4),tetramethylam-monium hydroxide (TMAH), or potassium hydroxide (KOH), attacks the plane of silicon. The plane is etched at a much faster rate than the plane, typically 35 times faster. N-type silicon is etched at a much faster rate (>50 times faster) than p+-type, so n-type material is often used as the start-ing material. P+-type material can be epitaxially grown on the wafer or diffused into the wafer to add a further control element in defining the dimensions. Agi-tation maintains uniform concentration during anisotropic etching. The char-acteristic shape (preferential etching) of anisotropic etching of silicon is shown in the cross-section of Figure 2.1(a), which produces a 54.7-degree angle for the silicon[4, 5]. The top view of etching into the surface of the sili-con appears as a pyramid-shaped pit.
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硅IC通常使用或硅来制造(制造)。在批量微机械加工中,各向异性(单向)蚀刻剂,例如乙二胺-邻苯二酚(EDP),肼(N2H4),氢氧化四甲铵-氢氧化铵(TMAH)或氢氧化钾(KOH),会腐蚀硅的平面。刻蚀平面的速度比平面快得多,通常快35倍。N型硅的蚀刻速度比p +型要快得多(快50倍以上),因此通常将n型材料用作起始材料。P +型材料可以在晶片上外延生长或扩散到晶片中,从而在定义尺寸时添加其他控制元素。各向异性蚀刻期间,搅拌可保持均匀的浓度。硅的各向异性蚀刻的特征形状(优先蚀刻)显示在图2.1(a)的横截面中,该截面为硅产生了54.7度角[4,5]。蚀刻到硅表面的顶视图显示为金字塔形凹坑。
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硅IC通常是使用或硅制造(制造的)。在散装微加工中,各向异性(单向)的除氧剂,如乙烯-二胺-皮罗卡技术(EDP)、氢化物(N2H4)、四甲基氢氧化氢(TMAH)或氢氧化钾(KOH)攻击硅平面。飞机的蚀刻速度比飞机快得多,通常快35倍。N 型硅的蚀刻速度比 p+型快得多(±50 倍),因此 N 型材料通常用作起始材料。P+型材料可以分片生长在晶圆上,也可以扩散到晶圆中,在定义尺寸时增加进一步的控制元件。在各向性蚀刻过程中,Agi-tation 保持均匀的浓度。硅各向蚀刻的字符活动形状(优先蚀刻)如图2.1(a)的横截面所示,为硅产生54.7度角[4,5]。蚀刻到硅线表面的顶视图显示为金字塔形坑。
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硅集成电路通常使用或硅制造。在体微加工中,各向异性(单向)腐蚀剂,如乙二胺邻苯二酚(EDP)、肼(N2H4)、四甲基氢氧化铵(TMAH)或氢氧化钾(KOH)攻击硅平面。平面的蚀刻速度比平面快得多,通常是平面的35倍。N型硅的蚀刻速度比p+型快得多(>50倍以上),因此N型材料常被用作起始材料。P+型材料可以在晶圆上外延生长或扩散到晶圆中,以在定义尺寸时添加进一步的控制元件。各向异性腐蚀时,Agi-tation保持浓度均匀。硅各向异性腐蚀的特征形状(优先腐蚀)如图2.1(a)的横截面所示,该横截面为硅的54.7度角[4,5]。刻蚀到sili con表面的俯视图显示为一个金字塔形的凹坑。<br>
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