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1. AFT holder locating pin not adju
1. AFT holder locating pin not adjusted. Device is movable 1mm range找廠商調整/Power2. AUT PC : Why it’s I5 CPU? Other station are I73. AUT PC : Have no XPS or Excel viewer裝一下這些軟件/Neil4. All test station PC folder are messy. Some of PC have tons of test log of 2017 products刪了之前的舊記錄, 改為當前時間5. PC monitor resolutions are all different. Kazam screen not fit to screen. Can not see all window6. AFT. Please check RFID controller position on the top of chamber7. ARF Chamber : Is that clean one or most old chamber from Compal inventory8. Most concerns : I am guessing not many hardware debugging works in each test stations. Please look at cabling condition whether all are in clean or in risk9. RIT, SWDL : Wanna ask to check power adaptor, USB cable condition in each deck. Whether all are OK to testing or will causing NTF due to plug out or causing cosmetic damage and so on檢查一下這兩站USB, 是否會導致NTF或者導致外觀刮傷10. AFT ALS light source part, Please look at AFT testing whether that ALS light source pipe diameter is good design in current Trona device with protective cover design. Any risk light leakage causing wrong calibration due to protective cover deform11. AFT please touch volumn/power button press jig whether it’s firmly fixed or loosen 12. I don’t put further input here for assembly lime, but Nice to check assembly lines as well
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1. AFT支架定位销未调整。装置可移动1mm范围找厂商调整/功率<br>2. AUT PC：为什么是I5 CPU？其他工作站是I7 <br>3. AUT PC：没有XPS或Excel查看器安装一下这些软件/ Neil <br>4.所有测试工作站PC文件夹都杂乱无章。一些PC拥有2017年产品的大量测试日志log修订了之前的旧记录，转换当前时间<br>5。PC显示器的分辨率都不同。Kazam屏幕不适合屏幕。无法看到所有窗口<br>。6. AFT。请检查RFID控制器在腔室<br>7 顶部的位置。ARF腔室：是否是从Compal库存中清洁的一个或最旧的腔室？<br>8.最令人担忧的是：我猜每个测试站的硬件调试工作并不多。请查看电缆状况，看是否全部清洁或有危险<br>9. RIT，SWDL：想要询问检查每个卡座中的电源适配器，USB电缆状况。all <br>检查一下两个站USB，是否会导致NTF或导致外观刮伤<br>10。AFT ALS光源部分，请查看AFT测试，在当前带有保护罩设计的Trona设备中，ALS光源管的直径是否设计合理。任何由于防护罩变形而导致漏光的风险，可能导致校准错误。11 <br>. AFT请触摸音量/电源按钮夹具是否牢固固定或松动<br>。12.我在此无需进一步输入组装石灰，但是很乐意检查组装线好
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1. 未调整 AFT 支架定位销。设备可移动 1mm 范围 1廠 1調 1 0 1 0<br>2. AUT PC ： 为什么是 I5 CPU？其他站是 I7<br>3. AUT PC ： 没有 XPS 或 Excel 查看器裝+這_ 軟 /Neil<br>4. 所有测试站 PC 文件夹都凌乱。部分 PC 有 2017 年产品的成吨测试日志刪 1000舊記錄， 為當時間<br>5. PC 监视器分辨率都不同。卡扎姆屏幕不适合屏幕。看不到所有窗口<br>6. AFT.请检查腔室顶部的 RFID 控制器位置<br>7. ARF 室： 是清洁的一个或最旧的室从 Compal 库存<br>8. 最关心的：我猜每个测试站硬件调试工作没有多少。请查看布线状况，无论所有电缆都清洁或处于危险中<br>9. RIT，SWDL：想要求检查电源适配器，USB电缆状况在每个甲板。是否都确定测试或会导致 NTF 由于堵塞或造成化妆品损坏等<br>檢[這兩USB，[會導NT]]導]觀]傷<br>10. AFT ALS光源部分，请查看 AFT 测试，该 ALS 光源管直径是否良好，在当前具有保护盖设计的 Trona 装置中。任何危险光泄漏导致由于保护盖变形而导致校准错误<br>11. AFT 请触摸卷/电源按钮按下夹具，无论夹具是牢固固定还是松开<br>12. 我不把进一步输入在这里组装石灰， 但很高兴检查装配线， 以及
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1. AFT holder locating pin not adjusted. Device is movable 1mm range找廠商調整/Power2. AUT PC : Why it’s I5 CPU? Other station are I73. AUT PC : Have no XPS or Excel viewer裝一下這些軟件/Neil4. All test station PC folder are messy. Some of PC have tons of test log of 2017 products刪了之前的舊記錄, 改為當前時間5. PC monitor resolutions are all different. Kazam screen not fit to screen. Can not see all window6. AFT. Please check RFID controller position on the top of chamber7. ARF Chamber : Is that clean one or most old chamber from Compal inventory8. Most concerns : I am guessing not many hardware debugging works in each test stations. Please look at cabling condition whether all are in clean or in risk9. RIT, SWDL : Wanna ask to check power adaptor, USB cable condition in each deck. Whether all are OK to testing or will causing NTF due to plug out or causing cosmetic damage and so on檢查一下這兩站USB, 是否會導致NTF或者導致外觀刮傷10. AFT ALS light source part, Please look at AFT testing whether that ALS light source pipe diameter is good design in current Trona device with protective cover design. Any risk light leakage causing wrong calibration due to protective cover deform11. AFT please touch volumn/power button press jig whether it’s firmly fixed or loosen 12. I don’t put further input here for assembly lime, but Nice to check assembly lines as well
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