— Prior to each test temperature, the DUT shall be conditioned at RT a的简体中文翻译

— Prior to each test temperature, t

— Prior to each test temperature, the DUT shall be conditioned at RT according to the thermal equilibration requirements provided in 5.1 followed by a standard charge (SCH) as provided in 6.2.2.3.2 for top off and a standard cycle (SC) as provided in 6.2.— Then the DUT shall be conditioned at the specified test temperature according to the thermal equilibration requirements provided in 5.1 followed by a standard charge (SCH) as provided in 6.2.2.3.2. The standard charge (SCH) is requested in order to condition the DUT to 100 % SOC at the specified test temperature prior to the pulse power characterization test profile.— In the next step, the fully charged DUT shall be discharged with a C/3 rate to the initial SOC of 90 % followed by a minimum 30 min rest period. NOTE A 108 s discharge with a C/3 rate will decrease the SOC level by 1 %.— Then the pulse power characterization profile as described in 7.3.2.2 shall be performed.— The next SOC steps (70 %, 50 %, 35 %, and 20 %7)) shall be reached by a C/3 discharge followed by a 30 min rest period. Then the pulse power characterization profile as described in 7.3.2.2 shall be performed at each mentioned SOC step. NOTE The amount of electric charge [Ah] withdrawn during the previous power characterization profile needs to be taken into account when adjusting the SOC level to the next following step by a C/3 discharge.— At the end of the pulse power characterization profile at the 20 % SOC level, the standard charge (SCH) shall be performed.— Data sampling, especially for DUT voltage and current, shall be performed with an adequate sampling rate for the profile described in Figure 5 and Table 9. A minimum of 10 measuring points per step are required.— The complete test sequence shall be performed as specified in Table 12. Table 12 — Test sequence power and internal resistance test Step Procedure Ambient temperature
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-在此之前每个测试温度下,DUT应在RT根据在5.1,随后在6.2.2.3.2对于顶掉和标准周期(SC)提供的标准充电(SCH)所提供的热平衡要求条件为6.2提供。<br>-然后,DUT应在指定试验温度根据在5.1,随后在6.2.2.3.2设置的标准充电(SCH)所提供的热平衡要求调节。标准充电(SCH)被请求,以便先于脉冲功率表征测试配置成调节所述DUT到100%的SOC在规定的试验温度。<br>-在下一步骤中,完全充电DUT应具有C / 3速率接着是至少30分钟的休息时间的90%的初始SOC排出。<br>注A 108 s的一个C / 3速率放电将减少1%的SOC水平。<br>-然后如7.3.2.2中描述的脉冲功率特性曲线应进行。<br>- )应以C / 3的放电达到接下来的SOC的步骤(7 70%,50%,35%和20%),接着是30分钟的休息时间。然后如7.3.2.2中描述的脉冲功率特性曲线应当在每一上述步骤SOC来执行。<br>注电荷的量[AH]在先前的功率特性曲线的需求调整该SOC水平到下一个随后的步骤由一个C / 3的放电时要考虑到撤回。<br>-在在20%SOC水平的脉冲功率特性曲线的端部,标准充电(SCH)应当被执行。<br>-数据采样,特别是对DUT的电压和电流,应以适当的采样速率在图5和表9,一种最小的每一步都需要10个测量点中描述的配置文件来执行。<br>-如表12中指定应进行完整的测试序列<br>测试序列电力和内部电阻测试步骤过程环境温度-表12
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• 在每次测试温度之前,DUT 应根据 5.1 中提供的热均衡要求在 RT 处进行调节,然后按照 6.2.2.3.2 中规定的标准电荷 (SCH) 和 6.2 中提供的标准循环 (SC) 进行调节。<br>• 然后,DUT 应根据 5.1 中提供的热均衡要求在指定的测试温度下进行调节,然后按照 6.2.2.3.2 中提供的标准电荷 (SCH) 进行调节。请求标准电荷 (SCH), 以便在脉冲功率特性测试配置文件之前,在指定的测试温度下将 DUT 调节到 100% SOC。<br>• 在下一步中,完全充电的 DUT 应以 C/3 速率放电,初始 SOC 为 90%,然后至少休息 30 分钟。<br>注 C/3 速率为 108 s 放电将使 SOC 电平降低 1 %。<br>• 然后应执行 7.3.2.2 中所述的脉冲功率表征配置文件。<br>• 接下来的 SOC 步骤(70%、50%、35% 和 20 %7)应通过 C/3 放电达到,然后达到 30 分钟的休息时间。然后,应在提到的每个 SOC 步骤上执行 7.3.2.2 中所述的脉冲功率表征配置文件。<br>注意:在通过 C/3 放电将 SOC 电平调整到下一步时,需要考虑在以前的功率特性配置文件中撤回的电荷 [Ah] 量。<br>• 在 20% SOC 电平的脉冲功率表征配置文件结束时,应执行标准电荷 (SCH)。<br>• 数据采样,尤其是 DUT 电压和电流,应在对图 5 和表 9 中描述的轮廓进行适当采样率。每步至少需要 10 个测量点。<br>* 完整的测试序列应按照表 12 中指定的方式执行。<br>表 12 = 测试序列功率和内部电阻测试步骤程序 环境温度
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-在每个试验温度之前,应根据5.1中提供的热平衡要求,在室温下对试验件进行调节,然后根据6.2.2.3.2中提供的标准装料(SCH)进行加满,并根据6.2中提供的标准循环(SC)。<br>-然后,应根据5.1中规定的热平衡要求,在规定的试验温度下对试验件进行调节,然后按照6.2.2.3.2中规定的标准电荷(SCH)进行调节。要求使用标准电荷(SCH),以便在脉冲功率特性测试剖面之前,在规定的测试温度下将DUT调节至100%SOC。<br>-在下一步中,充满电的DUT应以C/3的速率放电至90%的初始SOC,然后进行至少30分钟的休息。<br>注:C/3速率下的108 s放电将使SOC水平降低1%。<br>-然后,应执行7.3.2.2中所述的脉冲功率特性曲线。<br>-接下来的SOC步骤(70%、50%、35%和20%7))应通过C/3放电完成,然后进行30分钟的休息。然后,应在每个提及的SOC步骤中执行7.3.2.2中所述的脉冲功率特性曲线。<br>注:当通过C/3放电将SOC电平调整到下一步时,需要考虑在先前功率特性曲线期间提取的电荷量[Ah]。<br>-在20%SOC水平的脉冲功率特性曲线结束时,应进行标准电荷(SCH)。<br>-数据采样,尤其是被测器件的电压和电流采样,应按照图5和表9中所述的剖面图以适当的采样率进行。每个步骤至少需要10个测量点。<br>-应按照表12的规定执行完整的试验顺序。<br>表12-测试顺序功率和内阻测试步骤环境温度<br>
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