This is for measuring plane directi

This is for measuring plane directional phase differences of the first quarter-wave film (103) and the second quarter-wave film (104) by fixing phase retardation axes of the first quarter-wave film (103) of the second quarter-wave film (104) parallel to each other and rotating the phase retardation axes so that they form 45° or 135° with the absorption axis of the lower polarizer (101) or the upper polarizer (102).

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这是为了通过固定第二四分之一波长膜的第一四分之一波长膜(103)的相位延迟轴来测量第一四分之一波长膜(103)和第二四分之一波长膜(104)的平面方向相位差(104)相互平行并旋转相位延迟轴，使其与下偏光片(101)或上偏光片(102)的吸收轴成45°或135°。

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这是为了测量第一四分之一波膜（103）和第二四分之一波膜（104）的平面方向相位差，方法是将第二四分之一波膜（104）的第一四分之一波膜（103）的相位延迟轴彼此平行地固定，并旋转相位延迟轴，使其与第一四分之一波膜（103）形成45°或135°下偏振器（101）或上偏振器（102）的吸收轴。

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这是为了通过固定第二四分之一波长膜(104)的第一四分之一波长膜(103)的相位延迟轴彼此平行并旋转相位延迟轴使得它们与下偏振器(101)或上偏振器(102)的吸收轴形成45°或135°来测量第一四分之一波长膜(103)和第二四分之一波长膜(104)的平面方向相位差。

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