Kleben Sie die Verbindung der richtigen Größe, einzelne Kristalllinie, auf die Glasstange mit dem richtigen Durchmesser. Kristallologische Daten wurden mit einem CCD-Oberflächen-Röntgenbeugungsgerät von Brooks, Deutschland, gesammelt. Die Prüftemperatur beträgt 293K. Die Kristallstruktur der Verbindung wird mit der direkten Methode nach dem SHELXTL-97-Verfahren analysiert und durch das am wenigsten quadrierte F2 korrigiert. Die Position der Wasserstoffatome wird durch theoretische Hydrierung erreicht.<br>XRD ist eine Technik zur Bestimmung der atomaren und molekularen Struktur von Kristallen in XRD, bei der Kristallatome Beugungsstrahlen in einer bestimmten Richtung einfallen, unterschiedliche Beugungsergebnisse erzielen und den Winkel und die Intensität dieser Beugungslichtmessen messen. Auf diese Weise kann der Detektor ein dreidimensionales Bild erzeugen, das die Elektronendichte im Kristall darstellt. Wenn Informationen über die Elektronendichte gewonnen werden, können verschiedene Informationen wie die Schwingungsposition und chemische Bindungen von Atomen in Kristallen erhalten werden. Durch den Vergleich der Beugungsspitzenposition im resultierenden Diagramm mit der Standard-Spektralkarte können der Kristallgehalt und die Korngröße des Materials durch Bestimmung der Kristallphase, der Breite und der Breite des Materials bestimmt werden. Röntgenbeugung ist der effektivste Weg, um Kristallstrukturen zu untersuchen, wie die Art und Position Verteilung von Atomen und Ionen und ihre Gruppen, sowie die Form und Größe von Kristallen.
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