• Methodology: • Visually inspect d

• Methodology: • Visually inspect display for waviness by moving light bar across display until all areas are inspected • Record location of worst waviness defect • Inspection Items: • Left/right edge waviness • Corner high contrast / low contrast dimple • Random lines • Other waviness defects not covered by SGT

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•方法： •通过在显示移动光棒，直到所有的区域进行检查，目视检查为波纹度显示 •最坏波纹缺陷的记录位置 •检查项目： •左/右边缘波纹 •角高对比度/低对比度凹坑 •随机线 •其他未包括SGT波纹缺陷

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• 方法： • 通过跨显示屏移动灯条，目视检查显示屏的波纹，直到检查所有区域 • 记录最差波纹缺陷的位置 • 检验项目： • 左右边缘波浪形 • 角高对比度 / 低对比度酒窝 • 随机线 • SGT 未涵盖的其他波纹缺陷

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•方法： •通过在显示器上移动灯条，目视检查显示器的波纹度，直到检查完所有区域 •记录最严重波纹缺陷的位置 •检查项目： •左/右边缘波纹度 •角落高对比度/低对比度酒窝 •随机线 •SGT未涵盖的其他波纹缺陷

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