18 Dielectric Voltage Withstand Tes

18 Dielectric Voltage Withstand Test18.1 This test is an evaluation of the electrical spacings and insulation at hazardous voltage circuits within the electric energy storage system.18.2 Circuits exceeding 42.4 V peak or 60 Vdc shall be subjected to an electric strength test in accordance with the Standard for Information Technology Equipment Safety – Part 1: General Requirements, UL 60950-1, Clause 5.2.Exception: Semiconductors or similar electronic components liable to be damaged by application of the test voltage may be bypassed or disconnected.18.3 The test voltage is to be applied between the hazardous voltage circuits of the DUT and non-current carrying conductive parts that may be accessible.18.4 The test voltage is also to be applied between the hazardous voltage charging circuit and the enclosure/accessible non-current carrying conductive parts of the DUT.18.5 If the accessible parts of the DUT are covered with insulating material that may become live in the event of an insulation fault, then the test voltages are applied between each of the live parts and metal foil in contact with the accessible parts.18.6 The test voltages shall be applied for a minimum of 1 min with the cells/modules disconnected to prevent charging during application of the voltage. Technologies that are required to be at an elevated operating temperature in order to be active, such as sodium-beta chemistries, shall be in a hot state prior to disconnection and applying the test potential.18.7 There shall be no evidence of a dielectric breakdown (breakdown of insulation resulting in a short through insulation/arcing over electrical spacings) as evidenced by an appropriate signal from the dielectric withstand test equipment as a result of the applied test voltage. Corona discharge or a single momentary discharge is not regarded as an dielectric breakdown (i.e. insulation breakdown).18.8 If the EESS contains hygroscopic materials that may affect spacings, this test is repeated with the DUT or with the subassembly of the DUT containing the hygroscopic materials subjected to humidity conditioning of the Standard for Information Technology Equipment Safety – Part 1: General Requirements, UL 60950-1, Clause 2.9.2. As a result of this testing, there shall be no dielectric breakdown as outlined in 18.7

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18绝缘耐压试验 18.1本试验是电气间距和绝缘在电能存储系统内的危险电压电路的评估。 一般要求，UL 60950-1，第5.2：第1部分- 18.2电路超过42.4 V峰值或60伏直流，依照标准信息技术设备的安全进行的电气强度试验。 例外：半导体或类似的电子元件容易受到对试验电压的施加被损坏可以被旁路或断开。 18.3试验电压是可以是可访问的DUT的危险电压电路和非载流导电部件之间施加。 18.4试验电压也向危险电压充电电路和外壳/可访问的非通电DUT的导电部件之间来施加。 18.5如果DUT的可访问部分覆盖有绝缘材料，其可以成为住在绝缘故障的情况下，则测试电压被各带电部件与金属箔的之间与所述访问部件接触而施加。 18.6所述的试验电压应施加最少1分钟与电池/模块断开，以防止在施加电压时进行充电。所需要的是在升高的工作温度，以便技术是有效的，如钠-β化学品，应当向断开和施加测试电势之前是在热状态。 18.7应无如由适当的信号从所述介电耐受测试设备所施加的测试电压的结果的电介质击穿（导致短的通过绝缘/电弧在电绝缘间隔的击穿）的证据。电晕放电或单个瞬时放电不被视为一个介电击穿（即绝缘击穿）。 18.8如果EESS包含可以影响间距吸湿材料，此试验被重复与DUT或与含有吸湿性材料DUT的经受标准信息技术设备的安全的湿度调节的子组件-第1部分：一般要求，UL 60950-1，第2.9.2。作为该试验的结果，应如18.7概述没有电介质击穿

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18 电介质电压耐受测试 18.1 此测试是电能存储系统中危险电压电路的电气间距和绝缘性能的评估。 18.2 超过 42.4 V 峰值或 60 Vdc 的电路应按照信息技术设备安全标准 – 第 1 部分：一般要求、UL 60950-1、第 5.2 条进行电气强度测试。 例外情况：半导体或类似的电子元件或可能因应用测试电压而损坏的元件可能会绕过或断开。 18.3 测试电压将施加在 DUT 的危险电压电路和非电流承载导电部件之间，这些导电部件可能可访问。 18.4 测试电压也应用于危险电压充电电路和附件/可访问非电流携带的 DUT 导电部件之间。 18.5 如果 DUT 的可接触部件被绝缘故障时可能变为活的绝缘材料覆盖，则在每个带电部件和与可接触部件接触的金属箔之间施加测试电压。 18.6 在断开电池/模块时，应至少施加 1 分钟的测试电压，以防止在应用电压期间充电。需要处于较高工作温度才能活跃的技术，如钠-β化学品，在断开并应用测试电位之前，应处于高温状态。 18.7 不得有电介质故障（绝缘的破裂导致绝缘短路，绝缘/电间隔电电弧短路），电介质承受测试设备因施加的测试电压而发出适当信号就证明了这一点。电晕放电或单时放电不被视为电介质故障（即绝缘故障）。 18.8 如果 EESS 含有可能影响间距的吸湿材料，则此测试与 DUT 或包含符合信息技术设备安全标准湿度调节的吸湿材料的 DUT 子组件重复进行 - 第 1 部分：一般要求，UL 60950-1，第 2.9.2 条。由于这次测试的结果，不应出现 18.7 中概述的电介质故障

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18介质耐压试验 18.1本试验是对电能储存系统内危险电压电路的电气间距和绝缘的评估。 18.2超过42.4 V峰值或60 V直流电的电路应根据信息技术设备安全标准第1部分：一般要求UL 60950-1第5.2条进行电气强度试验。 例外情况：半导体或类似的电子元件在施加测试电压时容易损坏，可以绕过或断开。 18.3试验电压应施加在被测件的危险电压电路和可接近的非载流导电部件之间。 18.4试验电压也应用于危险电压充电电路和DUT的外壳/可接近的非载流导电部件之间。 18.5如果被测设备的可接近部分覆盖有绝缘材料，在发生绝缘故障时可能带电，则在每个带电部分和与可接近部分接触的金属箔之间施加试验电压。 18.6在断开电池/模块的情况下，试验电压应至少施加1分钟，以防止在施加电压期间充电。需要在较高工作温度下才能激活的技术，如钠β化学物质，应在断开和施加试验电位之前处于热状态。 18.7不应存在介质击穿的迹象（绝缘击穿导致绝缘短路/电气间隙电弧），这可通过施加试验电压后介质耐受试验设备发出的适当信号来证明。电晕放电或单个瞬时放电不被视为介质击穿（即绝缘击穿）。 18.8如果EESS包含可能影响间距的吸湿材料，则应使用DUT或包含吸湿材料的DUT子组件重复本试验，这些吸湿材料应按照信息技术设备安全标准第1部分：一般要求UL 60950-1第2.9.2条进行湿度调节。作为该试验的结果，不应出现18.7中概述的介电击穿

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