TEM의 설계 원리는 매우 얇은 시료에 가속되고 집중된 전자선을 투사하는 것입니다 전자는 시료의 원자와 충돌하여 방향을 변경하여 각도 산란을 일으 킵니다. 산란 각도의 크기는 샘플의 밀도와 두께에 따라 다르므로 다른 밝고 어두운 이미지를 형성 할 수 있습니다. 이미지가 확대되고 초점이 맞춰지면
Tem은 가속및 농축 된 전자 빔을 매우 얇은 샘플에 투영하도록 설계되었으며, 여기서 전자는 방향을 바꾸기 위해 샘플의 원자와 충돌하여 각 산란을 초래합니다. 산란 각도의 크기는 샘플의 밀도와 두께에 따라 달라지므로 다른 빛과 어두운 이미지를 형성할 수 있습니다. 이미지가 확대되고 초점을 맞춘 후,
TEM 의 디자인 원 리 는 가속 과 집중 의 전자 빔 을 아주 얇 은 시료 에 투사 하기 위해 전자 와 시료 중의 원자 가 충돌 하여 방향 을 바 꾸 어 각도 산란 을 일 으 키 는 것 이다.산란 각 의 크기 는 견본 의 밀도 와 두께 에 달 려 있 기 때문에 서로 다른 명암 이미 지 를 형성 할 수 있다.그림 을 확대 하고 초점 을 맞 춘 후,<br>