Due to the low forces used in AFM,

Due to the low forces used in AFM, the ability to operate under ambient temperatures, and the use of a physical probe (as opposed to the electron probe alternative of the SEM), the AFM is suited for studying material microstructure, particularly in opaque materials which are difficult to investigate with optical microscopy techniques.

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由于在AFM中使用的低的力，在环境温度下操作的能力，以及使用的 一个物理探针（相对于SEM的电子探针的替代），原子力显微镜适合 用于研究材料的微观结构，特别是在不透明材料这是很难 用光学显微镜技术研究。

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由于 AFM 中使用的力较低，因此能够在环境温度下操作，并且使用 物理探头（与 SEM 的电子探头替代，AFM 适合 用于研究材料微观结构，特别是在不透明材料中，这些材料很难 研究与光学显微镜技术。

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由于AFM中使用的力较低，能够在环境温度下工作，并且使用 一个物理探针（与扫描电镜的电子探针不同），原子力显微镜是合适的 用于研究材料微观结构，特别是在不透明材料中 用光学显微镜技术研究。

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