High-density Bi 2 O 3 ceramics were prepared via a three-step cold sin的简体中文翻译

High-density Bi 2 O 3 ceramics were

High-density Bi 2 O 3 ceramics were prepared via a three-step cold sintering process (TS-CSP) at an ultra-low temperature. In the first step, the relative density of the Bi 2 O 3 ceramic, subjected to 155 °C and 300 MPa for 25 min, is 96.23%, with the majority of the crystals inside the ceramic. The Bi 2 O 3 ceramic was further densified with a corresponding increase in the relative density to 98.52%, after processing at 210 °C and 300 MPa for 25 min, in the second step. Finally, in the third stage of the processing, the temperature was raised from 210 °C to 270 °C and isothermally held for 25 min, which enabled the Bi 2 O 3 ceramic grains to fully grow to yield a grain size of 4.02 μm, having a relative density of 99.13%. The densification mechanism of the TS-CSP Bi 2 O 3 ceramics is via a dissolution-recrystallization-growth process. The relative permittivity, quality factor and grain size of the Bi 2 O 3 ceramics are 33.44, 16,218 GHz and 4.02 μm, respectively. The materials and their preparation described herein provide a novel approach for the preparation of ultra-low temperature ceramics.
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高密度的Bi 2个O 3陶瓷的在超低温经由三个步骤冷烧结过程(TS-CSP)制备。在第一步骤中,的的Bi 2 O 3的陶瓷的相对密度,进行155℃,300MPa的25分钟,是96.23%,与大多数陶瓷内的晶体。所述的Bi 2 O 3的陶瓷进一步用在相对密度98.52%的相应增加致密化,在210处理℃和300兆帕25分钟,在第二步骤之后。最后,在处理的第三阶段,将温度从210℃升至270℃,等温保持25分钟,这使所述的Bi 2个O 3陶瓷颗粒充分生长,得到的4.02微米的粒度,具有99.13%的相对密度。所述TS-CSP的Bi 2个O 3陶瓷的致密化机制是通过溶解 - 再结晶生长过程。所述的Bi 2 O 3陶瓷的相对介电常数,品质因数和晶粒尺寸分别16218 GHz和4.02微米,是33.44。本文描述的材料和它们的制备提供一种用于超低温陶瓷的制备的新方法。
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高密度 Bi 2 O 3 陶瓷是在超低温下通过三步冷烧结工艺 (TS-CSP) 制备的。第一步,Bi 2 O 3 陶瓷的相对密度为 96.23%,陶瓷内部大部分晶体为 155 °C 和 300 MPa, 时间为 25 分钟。在第二步中,在210°C和300 MPa处理25分钟后,Bi 2 O 3陶瓷进一步变密,相对密度相应增加到98.52%。最后,在第三阶段加工中,温度从210°C提高到270°C,并维持25分钟,使Bi 2 O 3陶瓷颗粒完全生长,粒径达到4.02μm,相对密度为99.13%。TS-CSP Bi 2 O 3陶瓷的致密机是经过溶解-再结晶-生长过程。Bi 2 O 3 陶瓷的相对允许性、质量系数和颗粒尺寸分别为 33.44、16,218 GHz 和 4.02 μm。本文介绍的材料及其制备为超低温陶瓷的制备提供了一种新方法。
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采用三步冷烧结工艺(TS-CSP)在超低温下制备了高密度bi2o3陶瓷。在第一步中,bi2o3陶瓷在155℃和300mpa下放置25min的相对密度为96.23%,大部分晶体在陶瓷内部。在210℃和300mpa下处理25min后,bi2o3陶瓷进一步致密化,相对密度提高到98.52%。最后,在加工的第三阶段,将温度从210℃提高到270℃,恒温25分钟,使bi2o3陶瓷晶粒完全长大,晶粒尺寸为4.02μm,相对密度为99.13%。TS-CSP-bi2o3陶瓷的致密化机理是溶解-再结晶生长过程。bi2o3陶瓷的相对介电常数为33.44,品质因数为16218ghz,晶粒尺寸为4.02μm。本文所述材料及其制备方法为超低温陶瓷的制备提供了一种新的途径。
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