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With the device feature size is get

With the device feature size is getting smaller and smaller, will inevitably encounterdevice structure, the key technology, integration technologies and materials in a series ofproblems, the reason is mainly: The laws of physics, and other scientific awareness of theproblem also remain in the birth and development ofintegratedcircuits formed by the earlyclassical or semi-classical theory on the basis of these theories to describe micron for themicroelectronics devices, but the space for nano-scale magnitude and spatial scales of the orderof femtosecond of the new system- on-chip device is difficult to apply in the material system,the SiO2 gate dielectric material, polysilicon I silieide gate electrode, and other traditionalmaterials due to the material properties of the constraints, have failed to meet the 50-nanometerdevices and circuits in demand At the same time the strueture of the traditional devices havefailed to meet the 50 nanometer devices, we must develop a new type of device strueture andmicro-machining,  interconnection, and integration of key technology. Specific needsinnovation and the development of key areas, including Based on quantum physics andmesoscopic semiconductor devices based on the transport theory, the device model, simulationand smulation software, the new device structure, high-k gate dieletrie material and a neweatestueture and electon bcam seppr, 13 nmEUV litography, etching ulrafinc lines, sol,GeSi /.Si, and other sicon. based technology compatible with the new circuit, and low-Kdeletric Cu inrononee dvies and notecnology and quantum elecronie dev ices and theintegration of technology 
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已无法满足需求,同时传统设备的strueture havefailed,以满足50个纳米设备50 nanometerdevices和电路,我们必须开发新类型的设备结构之裂变andmicro加工,互连和关键技术的集成。基于传输理论,设备型号,simulationand溢流阀软件,新器件结构中,高k栅dieletrie材料和neweatestueture和electon BCAM seppr基于量子物理学andmesoscopic半导体器件具体needsinnovation和关键领域,开发包括13 nmEUV litography,蚀刻ulrafinc线,溶胶,锗硅/.Si和其他SICON。基础的技术与新的电路相容的,和低Kdeletric铜inrononee dvies和notecnology和量子elecronie dev的冰和技术的theintegration 
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随着设备功能尺寸越来越小,难免会遇到设备结构、关键技术、集成技术和材料等一系列问题,原因主要有:物理规律等科学意识问题还留在了由早期古典或半经典理论所形成的集成电路的诞生和发展中,这些理论对这些理论来描述微电子器件的微米,但纳米尺度的尺度空间和由于材料系统、SiO2门介电材料、多晶硅I硅酰胺门电极等传统材料的材料特性,新系统片上器件的飞秒顺序空间尺度难以应用于材料系统中。限制,已经不能满足50纳米设备和电路的需求,同时,传统器件的精度不能满足50纳米器件,我们必须开发一种新型的设备结构,微加工, 互联互通,并集成关键技术。具体需要创新和关键领域的发展,包括基于量子物理和基于传输理论的模位半导体器件、器件模型、仿真和仿真软件、新器件结构、高k门模具材料和一个新的和选通bcam塞普尔,13纳米EUV光刻,蚀刻ulrafinc线,索尔,GeSi /。Si,和其他西肯。基于与新电路兼容的技术,以及低Kdeletric Cu inronone 光和笔记学和量子电子学和量子电子学和技术的集成
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随着装置特征尺寸越来越小物理定律,和其他科学的对问题的认识也仍然存在于由早期循环或半经典理论所形成的集成电路的诞生和发展中,这些集成电路的形成是建立在这些理论的基础上,这些理论的基础是这些理论的基础。;描述微米用于微电子设备,但是,对于纳米级的大小和空间尺度,对于新系统的飞秒级的飞秒级的空间尺度,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用,对于在纳米级中应用,对于在纳米级中应用,对于在纳米级中应用,对于纳米级的大小和空间尺度,对于纳米级的纳米级的大小和空间尺度,对于在纳米级中应用,对于在材料系统中应用,对于在材料系统中应用是困难的,对于在材料系统中应用,在材料系统中应用,二氧化硅中应用是困难的。160;栅介电材料,多晶硅I硅化物栅电极, and other traditionalmaterials due to the material properties of the constraints, have failed to meet the 50-nanometerdevices and circuits in demand At the same time the strueture of the traditional devices havefailed to meet the 50 nanometer devices, we must develop a new type of device strueture andmicro-machining,  interconnection, and integration of key technology. Specific needsinnovation and the development of key areas, including Based on quantum physics andmesoscopic semiconductor devices based on the transport theory, the device model, simulationand smulation software, the new device structure, high-k gate dieletrie material and a neweatestueture and electon bcam seppr, 13 nmEUV litography, etching ulrafinc lines, sol,GeSi /.Si, and other sicon. based technology compatible with the new circuit,和低kdelectric cu inrononee dvies和noteconology和quantum elecronie dev ices和theintegration of技术<br>
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