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Practically, the creep phase of a n
Practically, the creep phase of a nanoindentation creep test is limited to 70 seconds partly because, relative to sample displacement rates, displacement piezo signal drift rates become amplified over longer data acquisition durations. While 10 seconds is insufficiently low to characterize any meaningful creep, hold times around 70 seconds still maintain LVE and are within the displacement piezo ranges of the data acquisition system.
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实际上，部分原因是因为，相对于样品位移率，位移压电信号漂移率放大在更长的数据采集持续时间成为纳米压痕蠕变试验的蠕变相位被限制为70秒。虽然10秒是不够低表征任何有意义的蠕变，约70秒保持时间仍保持LVE，并且是数据采集系统的位移压电范围内。
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实际上，纳米缩进蠕变测试的蠕变阶段被限制在 70 秒，部分原因是，相对于采样位移率，位移压电漂移速率在较长的数据采集持续时间内被放大。虽然 10 秒不足以描述任何有意义的蠕变，但保持时间在 70 秒左右仍保持 LVE，并且位于数据采集系统的位移压电范围内。
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实际上，纳米压痕蠕变试验的蠕变阶段被限制在70秒，部分原因是相对于样品位移率，位移压电信号漂移率在较长的数据采集时间内被放大。虽然10秒不足以表征任何有意义的蠕变，但保持70秒左右的时间仍然保持左室射血分数，并在数据采集系统的位移压电范围内。
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