開発で不良品を確認したところ,やはりFETの問題のようです.基板検査の規格値を緩和する,完成品検査の検知距離を短くするといった救済処置については,現時点では詰められていない(判断できていない)そうです.したがいまして,完成品も基板状態と同様,1度だけFETの交換をお願いします.ただし,交換しても全数OKになることはないと思いますので,交換してもNGの製品は基板を交換して良品にして下さい.基板の廃棄費用の処理については,MFGかSICK OPTEXかのどちらに請求して頂くかまだ決まっていないので,後日,連絡させて頂きます.それから,数mm距離が足りなかった不良品を確認した時に,こちらでの検査環境ではギリギリですがOKとなった製品が数台あったそうです.検知距離が延びるよう,検査器のファイバの交換をお願いします.また,ターゲットが汚れていないかの確認もお願いします.ターゲットの白紙はOJ製品の検査で使用しているマーメイド紙なので,もし汚れが目立つようであれば交換をお願いします.